Publisher's Note: "CRISP: A compact RF ion source prototype for emittance scanner testing" [Rev. Sci. Instrum. 91, 033314 (2020)]
Rev Sci Instrum
.
2020 Jun 1;91(6):069902.
doi: 10.1063/5.0015273.
Authors
C Poggi
1
,
E Sartori
1
,
M Zuin
1
,
M Brombin
1
,
V Cervaro
1
,
M Fadone
1
,
A Fassina
1
,
M Fincato
1
,
B Segalini
2
,
G Serianni
1
Affiliations
1
Consorzio RFX (CNR, ENEA, INFN, Università di Padova, Acciaierie Venete S.p.A.), C. Stati Uniti 4, 35127 Padova, Italy.
2
Università degli Studi di Padova, Via 8 Febbraio 1848, 2, 35122 Padova PD, Italy.
PMID:
32611007
DOI:
10.1063/5.0015273
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