A Parametrical Model for Instance-Dependent Label Noise.
Yang S, Wu S, Yang E, Han B, Liu Y, Xu M, Niu G, Liu T.
Yang S, et al. Among authors: han b.
IEEE Trans Pattern Anal Mach Intell. 2023 Dec;45(12):14055-14068. doi: 10.1109/TPAMI.2023.3301876. Epub 2023 Nov 3.
IEEE Trans Pattern Anal Mach Intell. 2023.
PMID: 37540612