Erratum: De Teresa, J.M. et al. Comparison between Focused Electron/Ion Beam-Induced Deposition at Room Temperature and under Cryogenic Conditions. Micromachines 2019, 10, 799
Micromachines (Basel). 2020 Feb 18;11(2):211.
doi: 10.3390/mi11020211.
1 Instituto de Ciencia de Materiales de Aragón (ICMA, CSIC-Universidad de Zaragoza) and Departamento de Física de la Materia Condensada, Facultad de Ciencias, Universidad de Zaragoza, Calle Pedro Cerbuna 12, 50009 Zaragoza, Spain.
2 Laboratorio de Microscopías Avanzadas (LMA), Instituto de Nanociencia de Aragón (INA), Edificio de I+D, Campus Río Ebro, 50018 Zaragoza, Spain.
3 Instituto de Ciencia Molecular, Universitat de València, Catedrático José Beltrán 2, 46980 Paterna, Spain.
4 Advanced Instrumentation for Ion Nano-Analytics (AINA), MRT Department, Luxembourg Institute of Science and Technology (LIST), 41 rue du Brill, L-4422 Belvaux, Luxembourg.